





Mit der Entdeckung der verschiedenen Arten der elektromagnetischen Strahlung war es jedoch schon Ende des 19. Jh. möglich, mit spektroskopischen Methoden erste Informationen zum Aufbau der Materie zu erhalten. Die verschiedenen spektroskopischen Methoden (IR-, NMR-, und Atomspektroskopie) liefern unterschiedliche Informationen und sind nicht auf alle Stoffe anwendbar (Bild 2).
Für feste kristalline Stoffe wurde im 20. Jh. deshalb eine andere nicht spektroskopische Methode zur Strukturaufklärung entwickelt und immer weiter vervollkommnet. Feste Stoffe kristallisieren in dreidimensionalen Gitterstrukturen, die je nach Bindungsart regelmäßige Anordnungen von Atomen, Ionen oder Molekülen darstellen (Bild 1). Der Abstand dieser Teilchen im Gitter ergibt sich aus dem Teilchendurchmesser und liegt daher ebenfalls zwischen 5 pm bei Ionen bis zu 1 nm bei Molekülen. Genau in dieser Größenordnung liegt die Wellenlänge von Röntgenstrahlen mittlerer Frequenz. Diese elektromagnetische Strahlung wird deshalb am Kristallgitter gebeugt und reflektiert, so wie sichtbares Licht an optischen Gittern geeigneter Spaltbreite (Bild 3).
Der Physiker MAX VON LAUE (1879 -
1960) und seine Mitarbeiter bestrahlten 1912 Kristalle mit Röntgenstrahlen
einer definierten Wellenlänge und bestätigten, dass diese die
üblichen Welleneigenschaften Beugung und Reflexion aufweisen. Durch
die Überlagerung der gebeugten und reflektierten Wellen entsteht
ein sogenanntes Beugungsmuster. Dieses Beugungsmuster hängt davon
ab , wie der Kristall aufgebaut ist, also von der Größe der
Atome bzw. Ionen und ihrem Abstand zueinander.
Die Teilchen, aus denen jeder Kristall besteht, bilden verschiedene Lagen
oder auch Ebenen. An diesen Gitterebenen bzw.
Netzebenen wird die Röntgenstrahlung reflektiert und gebeugt.
Diese Netzebenen sind in Bild 3 vereinfacht nur in waagerechter Richtung
gezeichnet. Trifft Röntgenstrahlen unter einem geeigneten Winkel
zwischen 0° und 90° auf solche Gitterebenen, so erfolgt eine Reflexion.
Die an der Gitterebene reflektierte Röntgenstrahlen überlagert
sich, es kommt zur Verstärkung (Interferenzmaxima) und zur Auslöschung
(Interferenzminima) der reflektierten Strahlung.
Eine Verstärkung tritt nur auf, wenn der Winkel
der an einer Gitterebene eingestrahlten Röntgenstrahlung gleich dem
Winkel
der reflektierten Strahlung ist. Außerdem muss der Gangunterschied
zwischen benachbarten Strahlen ein ganzzahliges Vielfaches der Wellenlänge
sein(Bild 4). Diese Bedingungen sind in der BRAGG-Gleichung
zusammengefasst, die von dem englischen Physiker WILLIAM
LAWRENCE BRAGG (1890 - 1971) aufgestellt wurde und wie folgt lautet:

Strahlt man also Röntgenstrahlung einer definierten Wellenlänge
auf einen Kristall ein und verändert den Einfallwinkel
von 0 bis 90°, so erhält man für eine Reihe von Netzebenenabstände
d im Kristall ein Signal der reflektierten Röntgenstrahlung. Da die
Abstände der Gitterebenen von der Größe und Anordnung
der Teilchen abhängen, kann aus dem Beugungsmuster die Gitterstruktur
berechnet werden. In den 60er und 70er Jahren des 20. Jh. dauerte eine
solche Berechnung noch mehrere Tage. Heute übernehmen Computer diese
Berechnung in wenigen Stunden.
Kristalline Feststoffe liegen entweder als Einkristalle oder als Pulver vor, indem viele kleine Kristallite regellos nebeneinander existieren. Der letztere Fall ist der häufigere (Bild 5). Dementsprechend entwickelten sich zwei grundlegende Methoden der Röntgenstrukturanalyse durch Beugung von Röntgenstrahlen, die Pulvermethoden und die Einkristallmethoden.
Einkristall- bzw. Drehkristall-Verfahren
In einem Einkristall besitzt das gleichmäßig
gewachsene Kristallgitter über das gesamte Volumen die gleiche Orientierung.
Wenn man einen ausreichend großen Einkristall einer neuen Verbindung
hergestellt hat, kann man daraus mittels Röntgenbeugung die Struktur
bestimmen. Man bringt den Kristall in den Strahlengang einer monochromatischen
Röntgenstrahlung und dreht ihn in alle Raumrichtungen. Auf diese
Weise wird der Einfallwinkel variiert und ein Beugungsmuster erhalten,
aus dem der Computer die Struktur berechnet. Man erhält auf diese
Weise die Anzahl der Ionen bzw. Atome in der kleinsten Baueinheit des
Einkristalls der sogenannten Elementarzelle.
Außerdem lassen sich die Abstände der Teilchen untereinander
und daraus ihre Radien sehr genau ermitteln. Sogar die Bindungswinkel
zwischen den Atombindungen kann man berechnen. Je einfacher der Kristall
aufgebaut ist, um so schneller und genauer ist die Berechnung der Struktur.
Mit modernen Methoden lässt sich sogar die Elektronendichteveteilung
zwischen den Teilchen visuell darstellen und Aussagen zur Bindungsstärke
ableiten. Die verschiedenen Drehkristall-Verfahren werden unter dem Begriff
Röntgenkristallstrukturanalyse
zusammengefasst.
Pulvermethoden
Oft liegen Feststoffe nicht als Einkristalle, sondern als Pulver
vor, in dem viele sehr kleine "Einkristalle" ungeordnet nebeneinander
existieren. Bringt man Pulver in den Strahlengang eines Röntgendiffraktometers
(engl. diffraction = Beugung), dann braucht
man die Probe nicht mehr zu drehen (Bild 6). Durch die regellos angeordneten
Kristallite ist bei Pulveraufnahmen von vornherein schon jeder Einfallwinkel
zu jeder Netzebene realisiert. Als Detektoren für die reflektierte
bzw. gebeugte Röntgenstrahlung verwendet man Zählrohre oder
spezielle Halbleiterbauelemente (CCDs) anstelle der früher gebräuchlichen
Filme. Der Nachteil der Pulveraufnahmen besteht darin, dass das Beugungsmuster
- das sogenannte Röntgendiffraktogramm
- "ungenauer" ist als bei Einkristallen. Das hat verschiedene
Ursachen, u. a. führt die statistische Verteilung der kleinen Kristallite
zu Verfälschungen der Intensitäten. Die Berechnung von Strukturen
ist deshalb sehr rechenaufwändig und kann erst seit den 80er-Jahren
mit leistungsfähigen Computern von erfahrenen Kristallografen durchgeführt
werden. Das Hauptanwendungsgebiet der Pulvermethoden ist deshalb auch
heute noch die Phasenanalyse.
Jeder feste, kristalline Reinstoff besitzt aufgrund seiner Struktur ein
charakteristisches Röntgendiffraktogramm (Bild 7), das zu dieser
Struktur gehört wie ein Fingerabdruck. Die Diffraktogramme aller
bekannten Substanzen sind in einer riesigen Datenbank dem zusammengefasst.
Hat man eine Pulveraufnahme eines Feststoffes, dann vergleicht man diese
mit den "Fingerabdrücken" der bekannten Substanzen in der
Datenbank und kann den Feststoff eindeutig identifizieren. Dazu genügen
wenige Milligramm des kristallinen Pulvers. Mit dieser Methode lassen
sich auch unterschiedliche Modifikationen der gleichen Verbindung, z.
B.
unterscheiden,
da sie verschiedene Strukturen aufweisen. Außerdem können in Gemischen
die enthaltenen Stoffe mit einem Anteil von mehr als 5 % nachgewiesen werden, weil alle Komponenten
zu Röntgensignalen im Diffraktogramm führen, die nicht zum "Fingerabdruck"
der reinen Verbindung gehören. Diese zuverlässige und eindeutige
Phasenanalyse bzw. Phasenidentifizierung ist die wichtigste Anwendung
der Pulvermethoden.
In der modernen Chemie werden die neu entdeckten Verbindungen, deren Struktur
aufgeklärt werden muss, jedoch immer komplizierter und lassen sich
oft nicht als Einkristalle herstellen. Durch den Fortschritt der Computertechnologie
können inzwischen aber auch die Strukturen dieser Verbindungen aus
Pulver-Aufnahmen mit einer ausreichenden Genauigkeit bestimmt werden.
Das mathematische Verfahren heißt RIETVELD-Verfeinerung
und erlaubte die Ermittlung der Struktur der Hochtemperatursupraleiter
zu Beginn der 90er Jahre und vieler anderer keramischer Verbindungen.